無(wú)錫單片機(jī)編程培訓(xùn)學(xué)校，都說(shuō)無(wú)錫單片機(jī)培訓(xùn)現(xiàn)在很火，我們通過(guò)如何學(xué)好單片機(jī)，如何測(cè)試單片機(jī)系統(tǒng)的可靠性，如何減少單片機(jī)程序中的bug看一下是怎么讓認(rèn)識(shí)的人越來(lái)越多的。

1.如何學(xué)好單片機(jī)

對(duì)于初學(xué)者來(lái)說(shuō)，最迷惑的莫過(guò)于了解單片機(jī)芯片的結(jié)構(gòu)，以及為什么一顆小小的芯片就能完成如此神奇的功能。另外，要想真正了解單片機(jī)的內(nèi)部成果，首先要對(duì)電路基礎(chǔ)、模擬電路、數(shù)字電路等有扎實(shí)的了解，否則學(xué)習(xí)可能是空中樓閣。學(xué)習(xí)單片機(jī)最重要的一點(diǎn)就是要理清邏輯思維，不要搞混，不要搞亂邏輯關(guān)系。對(duì)于單片機(jī)的初學(xué)者來(lái)說(shuō)，要學(xué)會(huì)用流程圖的形式清楚地表達(dá)一個(gè)程序的邏輯關(guān)系。至于用于編寫(xiě)程序的單片機(jī)的語(yǔ)言，很簡(jiǎn)單，不要以為它很神秘。單片機(jī)正在迅速變化，但它本質(zhì)保持不變。只要了解了它們的基本原理和結(jié)構(gòu)思想，無(wú)論怎么變，都可以學(xué)會(huì)。

2.如何測(cè)試單片機(jī)系統(tǒng)的可靠性

用什么方法來(lái)測(cè)試單片機(jī)系統(tǒng)的可靠性。在設(shè)計(jì)單片機(jī)系統(tǒng)時(shí)，針對(duì)不同的單片機(jī)系統(tǒng)產(chǎn)品會(huì)有不同的測(cè)試項(xiàng)目和方法，但有些是必須測(cè)試的：1、測(cè)試單片機(jī)軟件功能的完整性。這是對(duì)單片機(jī)系統(tǒng)所有功能的測(cè)試，以測(cè)試軟件是否編寫(xiě)正確和完整。2、上電和掉電測(cè)試。用戶在使用中難免會(huì)遇到上電和掉電的情況，可以多次切換電源來(lái)測(cè)試單片機(jī)系統(tǒng)的可靠性。3、老化測(cè)試。測(cè)試單片機(jī)系統(tǒng)在長(zhǎng)期工作條件下的可靠性。必要時(shí)可在高溫、高壓、強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試。4、ESD和EFT測(cè)試。各種干擾模擬器可用于測(cè)試單片機(jī)系統(tǒng)的可靠性。例如，使用靜電模擬器測(cè)試單片機(jī)系統(tǒng)的抗靜電ESD能力；使用浪涌噪聲模擬器進(jìn)行快速脈沖抗干擾EFT測(cè)試等。

無(wú)錫單片機(jī)編程培訓(xùn)學(xué)校

3.如何減少單片機(jī)程序中的bug

如何減少單片機(jī)程序bug，系統(tǒng)運(yùn)行時(shí)應(yīng)考慮的超范圍管理參數(shù)有：1.物理參數(shù)。這些參數(shù)主要是系統(tǒng)的輸入?yún)?shù)，包括激勵(lì)參數(shù)、采集過(guò)程中的運(yùn)行參數(shù)和過(guò)程結(jié)束時(shí)的結(jié)果參數(shù)。合理設(shè)置這些邊界，將超出邊界的參數(shù)視為異常激勵(lì)或異常響應(yīng)進(jìn)行錯(cuò)誤處理。2.資源參數(shù)。這些參數(shù)主要是系統(tǒng)中電路、器件和功能單元的資源，如內(nèi)存容量、存儲(chǔ)單元長(zhǎng)度、堆疊深度等。在編程中，不允許超出范圍使用資源參數(shù)。3.應(yīng)用參數(shù)。 這些應(yīng)用參數(shù)往往表示為一些單片機(jī)和功能單元的應(yīng)用條件。如E2PROM擦除次數(shù)和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)時(shí)間等應(yīng)用參數(shù)限制。4.過(guò)程參數(shù)，指系統(tǒng)運(yùn)行中參數(shù)的有序變化。

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