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南京單元測(cè)試可靠性測(cè)試包括哪些,手機(jī)可靠性測(cè)試包括哪些

日期:2022-04-19 09:56:10     瀏覽:250    來(lái)源:南京博為峰教育
核心提示:想從零基礎(chǔ)學(xué)習(xí)軟件測(cè)試到成為測(cè)試工程師詳細(xì)了解南京單元測(cè)試可靠性測(cè)試包括哪些1.LED照明產(chǎn)品可靠性測(cè)試需要測(cè)試哪些項(xiàng)目?LED老化測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試目的 測(cè)試項(xiàng)目/儀器名稱及測(cè)試目的如下: 1 耐腐蝕試驗(yàn)/鹽霧試驗(yàn)機(jī)

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1.LED照明產(chǎn)品可靠性測(cè)試需要測(cè)試哪些項(xiàng)目?

LED老化測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試目的 測(cè)試項(xiàng)目/儀器名稱及測(cè)試目的如下: 1 耐腐蝕試驗(yàn)/鹽霧試驗(yàn)機(jī): 測(cè)試目的:金屬部件抗氧化、抗腐蝕的能力 2 耐振動(dòng)試驗(yàn)/振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái) 測(cè)試目的:評(píng)估產(chǎn)品的基本功能;外觀/結(jié)構(gòu)是否正常,零件是否松動(dòng)、斷裂 3 耐沖擊試驗(yàn)/機(jī)械沖擊臺(tái) 測(cè)試目的:評(píng)估產(chǎn)品在運(yùn)輸過(guò)程中所遭受的沖擊、碰撞實(shí)際狀況 4 耐高低溫試驗(yàn)/艾思荔高低溫試驗(yàn)箱 測(cè)試目的:評(píng)估產(chǎn)品的基本功能;測(cè)試材料的穩(wěn)定性,光源的衰減性 5 耐光老化試驗(yàn)/耐光試驗(yàn)機(jī) 測(cè)試目的:評(píng)估金屬、橡塑件是否會(huì)變形、變脆及加速老化斷裂 6 耐雨水試驗(yàn)/耐水試驗(yàn)機(jī) 測(cè)試目的:評(píng)估產(chǎn)品是否會(huì)進(jìn)水,短路及密封性 7 耐濕性試驗(yàn)/恒溫恒濕箱 測(cè)試目的:產(chǎn)品是否會(huì)受潮濕而影響電氣性能 8 耐溫度突變?cè)囼?yàn)/冷熱沖擊箱 測(cè)試目的:評(píng)估產(chǎn)品的基本功能;測(cè)試材料的穩(wěn)定性,光源的衰減性;評(píng)估金屬、橡塑件是否會(huì)變形、變脆及加速老化斷裂 9 耐老化試驗(yàn)/高溫老化箱 測(cè)試目的:評(píng)估材料有無(wú)變形,提前加速老化 10 耐高溫高濕高壓試驗(yàn)/PCT試驗(yàn)箱 測(cè)試目的:評(píng)估產(chǎn)品的基本功能;光源的衰減性;評(píng)估產(chǎn)品是否會(huì)進(jìn)水,短路及密封性及加速老化斷裂 11 耐跌落試驗(yàn)/跌落試驗(yàn)機(jī) 測(cè)試目的:評(píng)估材料有無(wú)變形,通過(guò)基本測(cè)試,外觀/結(jié)構(gòu)正常,未見(jiàn)零件松動(dòng)異常。

2.手機(jī)可靠性測(cè)試包括哪些

可靠性測(cè)試包括六個(gè)部分:加速壽命測(cè)試,氣候適應(yīng)測(cè)試,結(jié)構(gòu)耐久測(cè)試,表面裝飾測(cè)試,特殊條件測(cè)試,及其他條件測(cè)試。手機(jī)可靠性測(cè)試項(xiàng)目1.1. 加速壽命測(cè)試ALT ( Life Test)1.1.1 室溫下參數(shù)測(cè)試 ( Test)1.1.2 溫度沖擊測(cè)試(Thermal Shock)1.1.3 跌落試驗(yàn)(Drop Test)1.1.4 振動(dòng)試驗(yàn)(Vibration Test)1.1.5 濕熱試驗(yàn)(Humidity Test)1.1.6 靜電測(cè)試(ESD)1.2.氣候適應(yīng)性測(cè)試 (Climatic Stress Test)A: 一般氣候性測(cè)試:1.2.1.高溫/低溫參數(shù)測(cè)試( Test)1.2.2.高溫/低溫功能測(cè)試( Test)B:惡劣氣候性測(cè)試1.2.3.灰塵測(cè)試(Dust Test)1.2.4.鹽霧測(cè)試(Salt fog Test)1.3.結(jié)構(gòu)耐久測(cè)試 ( Endurance Test)1.3.1.按鍵測(cè)試(Keypad Test)1.3.2.側(cè)鍵測(cè)試(Side Key Test)1.3.3.翻蓋測(cè)試(Flip Life Test)1.3.4.滑蓋測(cè)試(Slide Life Test)1.3.5. 重復(fù)跌落測(cè)試(Micro-Drop Test)1.3.6. 充電器插拔測(cè)試(Charger Test)1.3.7.筆插拔測(cè)試(Stylus Test)1.3.8點(diǎn)擊試驗(yàn) (Point Life Test)1.3.9劃線試驗(yàn) (Lineation Life Test)1.3.10.電池/電池蓋拆裝測(cè)試(Battery/Battery Cover Test)1.3.11. SIM Card 拆裝測(cè)試(SIM Card Test)1.3.12. 耳機(jī)插拔測(cè)試(Headset Test)1.3.13.導(dǎo)線連接強(qiáng)度試驗(yàn)(Cable Pulling Endurance Test--Draft)1.3.14.導(dǎo)線折彎強(qiáng)度試驗(yàn)(Cable Bending Endurance Test--Draft)1.3.15.導(dǎo)線擺動(dòng)疲勞試驗(yàn)(Cable Swing Endurance Test--Draft)1.4 表面裝飾測(cè)試 ( Surface Test)1.4.1.磨擦測(cè)試(Abrasion Test - RCA)1.4.2.附著力測(cè)試(Coating Adhesion Test)1.4.3.汗液測(cè)試( Test)1.4.4.硬度測(cè)試(Hardness Test)1.4.5. 鏡面摩擦測(cè)試(Lens Scratch Test)1.4.6 紫外線照射測(cè)試(UV Test)1.5.1. 低溫跌落試驗(yàn)(Low Drop Test)1.5.2. 扭曲測(cè)試(Twist Test)1.5.3. 坐壓測(cè)試(Squeeze Test)1.5.4. 鋼球跌落測(cè)試(Ball Drop Test)1.6 其他條件測(cè)試1.6.1螺釘?shù)臏y(cè)試(Screw Test)1.6.2掛繩孔強(qiáng)度的測(cè)試(Hand Strap Test)可靠性是指產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、應(yīng)用過(guò)程中,不斷經(jīng)受自身及外界氣候環(huán)境及機(jī)械環(huán)境的影響,而仍需要能夠正常工作,這就需要以試驗(yàn)設(shè)備對(duì)其進(jìn)行驗(yàn)證,這個(gè)驗(yàn)證基本分為研發(fā)試驗(yàn)、試產(chǎn)試驗(yàn)、量產(chǎn)抽檢三個(gè)部分。1.其中氣候環(huán)境包含:高溫、低溫、高低溫交變、高溫高濕、低溫低濕、快速溫度變化、溫度沖擊、高壓蒸煮(HAST)、溫升測(cè)試、鹽霧腐蝕(中性鹽霧、銅加速乙酸、交變鹽霧)、人工汗液、氣體腐蝕(SO2/H2S/HO2/CL2)、耐焊接熱,沾錫性,防塵等級(jí)測(cè)試(IP1X-6X),防水等級(jí)測(cè)試(IPX1-X8)、阻燃測(cè)試,UV老化(熒光紫外燈)、太陽(yáng)輻射(氙燈老化、鹵素?zé)?、等等;2.其中機(jī)械環(huán)境包含:振動(dòng)(隨機(jī)振動(dòng),正弦振動(dòng))、機(jī)械沖擊、機(jī)械碰撞、跌落、斜面沖擊,溫濕度 振動(dòng)三綜合、高加速壽命測(cè)試(HALT)、高加速應(yīng)力篩選(HASS、HASA)、插拔力,保持力,插拔壽命,按鍵壽命測(cè)試、搖擺試驗(yàn)、耐磨測(cè)試、附著力測(cè)試、百格測(cè)試等

3.電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試包括哪些

1、高溫試驗(yàn);2、低溫試驗(yàn);3、儲(chǔ)存溫度變化環(huán)境試驗(yàn);4、移行試驗(yàn);5、跌落試驗(yàn);6、振動(dòng)試驗(yàn);7、高壓靜電試驗(yàn);8、按鍵壽命測(cè)試;9、壓力試驗(yàn);10、拉力試驗(yàn);11、噴油、絲印附著力試驗(yàn)。

4.電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試包括哪些?

可靠性試驗(yàn)按項(xiàng)目可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、特殊試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)使用試驗(yàn)。電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)大致包括:高低溫、溫度沖擊、運(yùn)輸振動(dòng)、跌落、高加速壽命試驗(yàn)等。其中高加速壽命試驗(yàn)(Highly Life Testing,簡(jiǎn)稱HALT試驗(yàn))是一種對(duì)電子和機(jī)械裝配件利用快速高、低溫變換的震蕩體系來(lái)揭示設(shè)計(jì)缺陷和不足的過(guò)程。HALT的目的是在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的早期階段識(shí)別出產(chǎn)品的功能和破壞極限,從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。HALT的可靠性測(cè)試技術(shù)在國(guó)內(nèi)外電子業(yè)界已得到廣泛關(guān)注和認(rèn)識(shí)。

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